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在鍍膜過程中需要對一些重要參數進行監控，如膜層厚度、成分、表面光潔度、光透射率、反射系數、偏振特性等，都可以利用光譜學和雙光束干涉的方法進行測量。光纖的使用為監控過程提供了靈活的工具，可以使光方便地進入或導出遠方的真空超...

薄膜測量系統是專門針對半導體、材料、生物醫學薄膜的實驗室分析及在線監測開發的，用于測量薄膜反射率及膜層厚度的綜合測量系統。該系統基于白光反射及干涉的原理來確定光學薄膜的厚度。可以通過對白光干涉圖樣進行數學運算來計算出薄膜...

光是植物生理、生態和農業生產中的一個重要環境因素，對植物的生長發育起著重要作用。而在植物的光合作用中，只有能被植物吸收和利用的光才是與光合或干物質積累有關。測量這部分光，并且以能量單位度量，作為光合效率或干物質生產效率的...

地物光譜測量是依據地球表面物體對可見光和近紅外的反射率測量。地物光譜測量可以直接地或者輔助其他方法對物體做定性或定量分析。典型的地物光譜測量任務典型的任務：獲取某一地區的作物的分布圖。終制成的地圖中標出作物的類別，例如：...

太陽光譜輻照測量應用包括科學氣象、氣候觀測、材料測試研究，太陽能電池板效率和太陽能可再生能源的評價等。在大氣層外，太陽光譜可以看作為全波段的電磁波譜，但是在地表，由于大氣環境的影響，太陽光譜會存在很多特征，也正是基于此，...

太陽模擬器作為光源，在某種意義上說，可以等同于太陽光源，可以模擬太陽光照射。太陽模擬器廣泛應用于太陽能電池特性測試，光電材料特性測試，生物化學相關測試，光學催化降解加速研究，皮膚化妝用品檢測，環境研究等。隨著太陽能光伏產...

薄膜材料因其在多個方面的性能，使得應用十分廣泛，薄膜的制備有多種方法，磁控濺射法是當今制備薄膜比較常用的一種方法。而用磁控濺射法制備出高質量薄膜的關鍵是薄膜生長過程中的工藝參數選擇與穩定性控制。為此在薄膜生長中的工藝參數...

光譜學測量的基礎是測量光輻射與波長的對應關系。一般來說，光譜學測量的直接結果是由很多個離散的點構成曲線，每個點的橫坐標（X軸）是波長，縱坐標（Y軸）是在這個波長處的強度。因此，一個光譜儀的性能，可以粗略地分為下面幾個大類...

◆CCD電荷耦合器件（ChargerCoupledDevice，縮寫為CCD），硅基光敏元件的響應范圍在短波近紅外區域。◆PDA二極管陣列（PhotodiodeArray，縮寫為PDA）.光電二極管陣列是由多個二極管單元...

AvaSpec-USB1.1平臺的光纖光譜儀可以配置成單通道、雙通道、三通道、四通道或多通道（多可配置成8個不同的通道），由儀器主扳上的微處理器控制，使得不同通道間可以實現同步采樣。同步數據采樣可以使光譜儀快速讀出數據，...